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超声波探伤仪校准方法简述

超声波探伤仪校准方法简述:

超声波探伤仪的校准方法主要包括以下几个步骤:

零点校准。由于超声波在探伤过程中可能会受到保护膜、耦合剂或有机玻璃楔块的影响,导致声程有所偏差。因此,需要通过已知声程的试块(如CSK-IA试

块中的R100圆弧面或深100mm的大平底)来调整探头的零点,以确保超声波在工件中的实际声程。12

K值校准。对于斜探头探伤,除了需要知道缺点的声程外,还需要**测定缺点的水平和笔直方位。这通常是通过对具有已知深度孔的试块(如CSK-IA试块50

或1.5的孔)来进行校准来实现的。

定量校准。定量校准通常使用AVG(直探头)或DAC(斜探头)模式,通过选择合适的试块和调整探头的增益、检波方式、衰减系数等参数,以确保检测结果

的准确性。

信号增益校准。在测量过程中,需要调整仪器的增益值,以确保接收到的信号与试块上的标准信号相匹配。这通常是通过选择一段距离,并针对这个距离进

行多次测量,然后调整增益值来实现。3

仪器时间校准。在进行时间校准时,需要调整仪器的时钟,使其显示的时间与实际时间一致。这有助于确保测量结果的稳定性和准确性。

在进行校准时,还需要注意仪器的机械稳定性、探头的耦合状态、试块的表面状态等因素,以确保校准结果的准确性。

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